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Parole d'expert

Contrôle et vision

Cas d’usage Neovision : STMicroelectronics – Détection de défauts sur des wafers de silicium.
DÉTECTION DE DÉFAUTS SUR DES WAFERS DE SILICIUM PROBLÉMATIQUE  STMicroelectronics est un leader mondial dans la production de semi-conducteurs utilisés dans divers secteurs tels que...
publié le 10 décembre, 2023
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